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白光干涉3D測量儀

       采用寬帶光源的干涉原理,光源照射的光由分光鏡分 為兩束光,一束入射到參考鏡,另外一束照射到物體上,兩束光反射合束時發生干涉,由光學接收器接收干 涉光強。上下驅動內部光學單元時,接收到不同高度的 干涉圖案,通過算法處理得到被測物體表面的高度值。




產品型號 WIL102 WIL110
工作距離(mm) 3-13 3-13
視場大小(mm) 2.1X1.5 10x7
重復精度 0.1 0.1
測量精度(um) 0.2 0.2
橫向分辨率(um) 2.78 14.1
最快掃描速度(s) 1
輸入I/O (s) 2
輸出I/O 2
外形尺寸(mm) 296*160*91 296*160*91
重量(kg) 4 4
數據接口 USB3.0,百兆網口
輸入電壓(V) DC 24
光源 紅色LED
應用案例
我們專注于2D和3D以及AI智能的產品開發及應用服務,為客戶提供高速,高效,高精度的自動化檢測解決方案。
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